عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۳ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۷۵ ثانیه یافت شد.
1. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده :
by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
موضوع :
Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
»
1
«
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح